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段差測定(膜厚測定)検査装置 FP

触針式段差測定(膜厚)検査装置 FPシリーズ



針圧0.5mgから設定可能な超低針圧触針測定ヘッド(マイクロヘッドII※1)を搭載し、その安定した段差測定(膜厚測定)で液晶基板用の触針式段差測定装置(膜厚測定装置)としては世界シェアNO.1の実績を持っています。
段差測定(膜厚測定)検査装置 FP
液晶基板の大型化に合わせて開発された段差測定装置(膜厚測定装置)FPXタイプでは段差測定(膜厚測定)に影響を及ぼす振動への対策を強化し、基板全面で安定したデータが得られるよう構造変更を行っております。現在このXタイプでは基板サイズ最大3200mmまで対応しております。
さらにこれまでの段差測定装置(膜厚測定装置)FPシリーズの中で最も小さいタイプ(FP-20)よりもさらに小型化したFP-10をリリースし、ELやTN/STNなどの小型基板の段差測定(膜厚測定)に対し、低コスト・省スペースで基板全面の段差測定(膜厚測定)が可能になりました。

※1 検査装置業界最大手のKLA-Tencor(USA)が開発した触針式段差測定(膜厚測定)ヘッドで、その信頼性は他を圧倒する。
KLA-Tencorと東朋テクノロジーは技術、製造、販売でパートナーシップを結んでいる。


標準仕様
段差測定装置FP Aタイプ
サンプル基盤サイズ : 300mm - 880mm
段差測定装置FP Xタイプ
サンプル基盤サイズ : 920mm - 3200mm

走査スピード 最大25mm/sec.
サンプリングレート 最大200points/sec.
針圧 0.5mg - 15mg
位置決め精度 ±2μm
測定再現性 10A
除振装置 装着
オプション SECS/GEMインターフェイス・オフラインソフトウェア・パターン認識機能・色認識機能・その他


オリジナルソフトウェア

 
■グラフィカルなデザイン   ■一覧から簡単測定レシピ作成

様々な基盤の段差測定(薄膜測定)・検査に対応
様々なサンプル基板の段差測定(膜厚測定)に対応した各種スタイラス(触針)、校正用スタンダードをご用意しています。東朋テクノロジーでは中国大陸、台湾地域、韓国でもサポート体制を確立しておりますので段差測定装置(膜厚測定装置)、その他検査装置のことは何なりと弊社までご相談ください。



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段差測定装置 FPについての問合せ先
クリーンシステム事業
検査装置営業
TEL 0587−24−1210
FAX 0587−24−1224

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