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NANOMETRICS社製 測定装置

NanoSpec3000/6100
NanoSpec3000/6100
  NanoSpecシリーズは、ナノメトリクス社のテーブルトップ・タイプ光干渉式膜厚測定装置です。種々のパラメータの設定を可能にしたナノスペック測定プログラム「AFT」、および膜質解析ソフトウエア「XMP」(オプション)により、お客様の様々なアプリケーションに適応したプログラムを作成することができ、基板材質を選ばず多層構造の膜厚測定までもが可能となります。ナノスペックは、R&Dから先端の半導体量産ラインにいたる幅広い用途に対応することが可能です。

特徴
多数の納入実績を誇る「業界標準機」ナノスペック
半導体業界における様々な膜厚膜質解析のご要望に対応してまいりました経験により数多くのノウハウを蓄積しております。NanoSpecシリーズは、ナノメトリクス社のテーブルトップ・タイプ光干渉式膜厚測定装置です。
 
高精度、高信頼性
高精度リニアアレー受光素子を採用、高速測定を実現
測定再現精度±2Å(同一ポイント連続15回測定時の1σ)
 
多機能、独自のソフトウエア
UV、厚膜オプションを用い更に広範囲な波長領域に対応
オプションのXMPソフトにより、多層膜(3層膜)の同時測定、及び光学定数(n, k)調整機能、多彩な分散モデルによる各膜種に最適な解析が可能
最大200種類までの測定プログラムが作成可能

  NanoSpec Model.6100
NanoSpec 6100

オートフォーカス、オートステージ、オプションで300mm対応ステージ、UV領域、厚膜対応高分解能ヘッド、オートローダーなどの組み合わせが可能。対応ウェーハサイズ 3, 4, 5, 6, 8inch (*12inchオプション)

・Vis可視光領域 UV領域光干渉膜厚測定
・厚膜オプション
・オートローダーオプション

 
  NanoSpec Model.3000
NanoSpec 3000

マニュアルフォーカス、マニュアルステージで、簡便に膜厚測定が可能な3〜8inch対応、コストパフォーマンスに優れるマニュアル式膜厚測定装置。

・対応ウェーハサイズ 3, 4, 5, 6, 8inch
・Vis可視光領域
・厚膜オプション



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NANOMETRICS社製 測定装置についての問合せ先
東京支社
TEL 03−5812−2181
FAX 03−3837−2118

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