『セミコンジャパン2015』出展のお知らせ(2015/12/16~18)

世界を代表するマイクロエレクトロニクス製造サプライチェーンの
国際展示会『セミコンジャパン2015』に出展致します。
東京ビックサイトにて、3日間開催されます。
ぜひ展示会にお越し頂きますよう宜しくお願い致します。

会 期:2015 年12月16日(水)~18日(金)
場 所:東京ビックサイト (東展示棟)
時 間:10:00~17:00
ブース:2833 (東2ホール)

<展示内容>
1.光学式膜厚測定装置  TohoSpec3100
2.薄膜ストレス測定装置 FLX-2000-A
3.薄膜ストレス測定装置 FLX-3300-R(12インチ対応)

<パネル展示>
・有機EL、FPD用膜ムラ検査装置
・小型スクラブ洗浄装置
・段差測定検査装置
・液晶柱高さ検査装置
・FPD用自動膜厚測定装置 NanoSpec6500