『セミコンジャパン2014』出展のお知らせ(2014/12/3~5)

世界を代表するマイクロエレクトロニクス製造サプライチェーンの
国際展示会『セミコンジャパン2014』に出展致します。
東京ビックサイトにて、3日間開催されます。
ぜひ展示会にお越し頂きますよう宜しくお願い致します。

会 期:2014年12月3日(水)~5日(金)
場 所:東京ビックサイト (東展示棟)
時 間:10:00~17:00
ブース:5013 (東5ホール)

<展示内容>
1.光学式膜厚測定装置  TohoSpec3100
2.薄膜ストレス測定装置 FLX-2000-A
3.薄膜ストレス測定装置 FLX-3300-T(12インチ対応)

<パネル展示>
・有機EL、FPD用膜ムラ検査装置
・小型スクラブ洗浄装置
・段差測定検査装置
・液晶柱高さ検査装置
・FPD用自動膜厚測定装置 NanoSpec6500